Электронные книги

Жанры
Реклама
Последние комментарии
От партнёров
Облако тегов

Наука и учебаОсновы анализа поверхности и тонких пленок

Основы анализа поверхности и тонких пленок

Автор: Фелдман Л., Майер Д.
Название: Основы анализа поверхности и тонких пленок
Издательство: Мир
Год: 1989
Формат: djvu
Размер: 3.4 Mib
Для сайта: eKnigi.org

Монография, написанная известными американскими специалистами в области атомных столкновений в твердых телах, посвящена физическим основам и методам использования пучков ионов, электронов и рентгеновского излучения для анализа структуры н состава тонких пленок вещества. Эти методы играют важную роль в развитии современной атомной технологии, особенно в области микроэлектроники. Все вопросы изложены на высоком научном уровне.

Нажмите для скачивания 180.rar!180.rar
Размер: 3.71 Mb(cкачиваний: 3)



Похожие книги

Информация

Посетители, находящиеся в группе Гости, не могут оставлять комментарии к данной публикации.


  • Valid XHTML 1.0 Transitional