Автор: А. А. Чернышев Название: Основы надежности полупроводниковых приборов и интегральных микросхем Издательство: Радио и связь Год: 1988 Формат: djvu Размер: 40 Mib Для сайта: eKnigi.org
В книге на основе современных физических представлений рассмотрены
вопросы надежности полупроводниковых приборов и интегральных микросхем.
Значительное внимание уделено влиянию различных технологических факто-
ров и условий применения на надежность. Подробно рассмотрены дефекты,
возникающие в исходных материалах, и механизмы отказов полупроводни-
ковых приборов и интегральных микросхем. Изложены методы обеспечения
их надежной работы в различной радиоэлектронной аппаратуре.
Книга рассчитана на инженерно-технических работников, занимающихся
производством полупроводниковых приборов и интегральных микросхем и их
применением. Она будет полезна студентам старших курсов соответствующих
специальностей.
боров и интегральных микросхем.djvu Размер: 39.25 Mb(cкачиваний: 0)